| 释义 |
英语缩略词“SEM”经常作为“Standard Error of Measurement”的缩写来使用，中文表示：“标准测量误差”。本文将详细介绍英语缩写词SEM所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词SEM的分类、应用领域及相关应用示例等。
“SEM”（“标准测量误差）释义 - 英文缩写词：SEM
- 英文单词：Standard Error of Measurement
- 缩写词中文简要解释：标准测量误差
- 中文拼音：biāo zhǔn cè liáng wù chā
- 缩写词流行度：858
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Physics
以上为Standard Error of Measurement英文缩略词SEM的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词SEM的扩展资料-
Their amplitudes of from maximum to minimum reach several tens to 100-200 millivolts / km ( exceed the average standard error of measurement by 6-20 times ).
其双振幅每公里达数十乃至一、二百毫伏（超过平时观测标准误差6&20倍）；
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The standard error of single station measurement of earthquake magnitude is about 0.21-0.23, utilizing the new calibration function and the corrections of site condition.
用这四个量规函数加上台基校正，求得的单台震级的标准误差为0.21&0.23级。
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Analysis of the Effect of Minitype Area Shape Standard on the Error of Environment Noise Measurement
小型区域形状规整性对环境噪声测量误差的影响分析
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By combining with the HP laser interferometer, the standard error and repeatability of probe is calibrated in different measurement ranges. From these calibration results, the probe is adaptive to achieve micro / nano measurment for the 3D profile of microcomponent.
结合HP激光干涉仪对测头不同测量范围的标准差与重复性进行校正测量，由校正的结果分析，此测头系统可实现微器件表面3D形貌的微/纳米测量。
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The sensor's standard deviation in length measurement is 36? μ m, and the relative error of angular measurement is ( 0.2 % ) compared with the CMM ( coordinate measuring machine ).
该系统长度测量标准差为36μm，角度测量与坐标测量机（CMM）测量结果的相对误差0.2%.给出了某V型面三维实测的数据重建结果。
上述内容是“Standard Error of Measurement”作为“SEM”的缩写，解释为“标准测量误差”时的信息，以及英语缩略词SEM所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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