| 释义 |
英语缩略词“XTEM”经常作为“Cross-sectional Transmission Electron Microscopy”的缩写来使用，中文表示：“横截面透射电子显微镜”。本文将详细介绍英语缩写词XTEM所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词XTEM的分类、应用领域及相关应用示例等。
“XTEM”（“横截面透射电子显微镜）释义 - 英文缩写词：XTEM
- 英文单词：Cross-sectional Transmission Electron Microscopy
- 缩写词中文简要解释：横截面透射电子显微镜
- 中文拼音：héng jié miàn tòu shè diàn zǐ xiǎn wēi jìng
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Electronics
以上为Cross-sectional Transmission Electron Microscopy英文缩略词XTEM的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词XTEM的扩展资料-
Structural characterization and evolution of Fe / Ti nanometer-scale multilayers during thermal annealing at 473-873 K for 1 h were investigated by using small / wide angle x-ray diffraction, Rutherford backscattering spectrometry, cross-sectional transmission electron microscopy and differential scanning calorimetry.
利用Rutherford背散射、小角和广角x射线衍射、高分辨透射电子显微镜和差示扫描量热方法分析了Fe／Ti纳米多层薄膜的结构及其473-873K真空退火1h后的退火行为。
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By using cross-sectional transmission electron microscopy ( XTEM ) the effect of post-implanted Ar ~ + on the secondary defects in high energy P ~ + - implanted silicon are investigated.
用剖面的电子显微术（XTEM）研究了后注Ar~+对高能注P~+硅中二次缺陷的影响。
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Ion-irradiation-induced transition of single crystal Gd_2Zr_2O_7 pyrochlore was studied by cross-sectional transmission electron microscopy ( TEM ) and high-resolution TEM ( HRTEM ).
通过高分辨和剖面电子显微技术研究了离子注入在单晶焦绿石Gd2Zr2O7中的产生的结构相变。
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Elastic Relaxation in Cross-sectional Transmission Electron Microscopy(XTEM) Specimens of Ge_xSi_ ( 1-x ) / Si Strained-layer Superlattices
Ge＿xSi＿（1－x）／Si应变层超晶格的横截面电镜样品中的弹性驰豫
上述内容是“Cross-sectional Transmission Electron Microscopy”作为“XTEM”的缩写，解释为“横截面透射电子显微镜”时的信息，以及英语缩略词XTEM所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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