| 释义 |
英语缩略词“DUT”经常作为“Device Under Test”的缩写来使用，中文表示：“被测设备”。本文将详细介绍英语缩写词DUT所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词DUT的分类、应用领域及相关应用示例等。
“DUT”（“被测设备）释义 - 英文缩写词：DUT
- 英文单词：Device Under Test
- 缩写词中文简要解释：被测设备
- 中文拼音：bèi cè shè bèi
- 缩写词流行度：4470
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Electronics
以上为Device Under Test英文缩略词DUT的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词DUT的扩展资料-
The intelligent interface isolates the test signals provided by DUT ( device under test ) successfully.
智能接口成功地解决了对测试对象提供的检测信号的相互隔离；
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Request the contents of Modbus registers on the device under test through standard Modbus commands.
通过标准的Modbus命令请求测试设备上的Modbus寄存器的内容。
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Set the serial port connecting the host to the device under test.
将连接主机的串口设置为接受测试的设备。
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The offset voltage will cause an error in the applied stimulus to a device under test or the value measured by the voltmeter.
偏移电压会导致施加到被测装置的激励发生误差，或者使伏特计的测量值发生误差。
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If high voltage is used, current limiting resistors are needed to avoid damage to the current switches in case the device under test breaks down.
如果使用高压，则需要利用限流电阻，以免被测装置击穿后损坏电流开关。
上述内容是“Device Under Test”作为“DUT”的缩写，解释为“被测设备”时的信息，以及英语缩略词DUT所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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