| 释义 |
英语缩略词“DFT”经常作为“Design For Testability”的缩写来使用，中文表示：“可测试性设计”。本文将详细介绍英语缩写词DFT所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词DFT的分类、应用领域及相关应用示例等。
“DFT”（“可测试性设计）释义 - 英文缩写词：DFT
- 英文单词：Design For Testability
- 缩写词中文简要解释：可测试性设计
- 中文拼音：kě cè shì xìng shè jì
- 缩写词流行度：3154
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Electronics
以上为Design For Testability英文缩略词DFT的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词DFT的扩展资料-
As a new method of design for testability build-in self-test can prominently improve the testability of the circuits.
内建自测试作为一种新的可测性设计方法，能显著提高电路的可测性。
-
Design for Testability : to test the design.
可测性设计：有利于测试的设计。
-
Design for Testability and Implement Technology in ASIC Design
ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
-
Diagnostic strategy design is an important task in the design for testability ( DFT ).
诊断策略优化设计是测试性设计中的一项重要内容。
-
Research on Design for Testability and Test Algorithm of Embedded Memory
嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究
上述内容是“Design For Testability”作为“DFT”的缩写，解释为“可测试性设计”时的信息，以及英语缩略词DFT所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
|