| 释义 |
英语缩略词“CD/OL”经常作为“Critical Dimension OverLay”的缩写来使用，中文表示：“临界尺寸叠加”。本文将详细介绍英语缩写词CD/OL所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词CD/OL的分类、应用领域及相关应用示例等。
“CD/OL”（“临界尺寸叠加）释义 - 英文缩写词：CD/OL
- 英文单词：Critical Dimension OverLay
- 缩写词中文简要解释：临界尺寸叠加
- 中文拼音：lín jiè chǐ cùn dié jiā
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Electronics
以上为Critical Dimension OverLay英文缩略词CD/OL的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词CD/OL的扩展资料-
Systematic Control Exploitation for Critical Dimension and Overlay in Photolithography Technology
光刻工艺中对线宽和套刻系统性控制的开发
上述内容是“Critical Dimension OverLay”作为“CD/OL”的缩写，解释为“临界尺寸叠加”时的信息，以及英语缩略词CD/OL所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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