| 释义 |
英语缩略词“AEM”经常作为“Analytical Electron Microscopy”的缩写来使用，中文表示：“分析电子显微镜”。本文将详细介绍英语缩写词AEM所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词AEM的分类、应用领域及相关应用示例等。
“AEM”（“分析电子显微镜）释义 - 英文缩写词：AEM
- 英文单词：Analytical Electron Microscopy
- 缩写词中文简要解释：分析电子显微镜
- 中文拼音：fēn xī diàn zǐ xiǎn wēi jìng
- 缩写词流行度：3001
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Electronics
以上为Analytical Electron Microscopy英文缩略词AEM的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词AEM的扩展资料-
The fine scale microstructure of powder metallurgy high speed steels has been investigated by using analytical electron microscopy.
应用分析电子显微术对粉末冶金高速钢的精细结构进行了研究。
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Defects in photorefractive BaTiO_3 crystal, obtained by the top seed solution growth method, have been studied by analytical electron microscopy.
用分析电子显微镜(AEM)研究了顶部籽晶法生长的BaTiO3晶体内的缺陷。
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Analytical electron microscopy of defects in photorefractive batio_3 crystal
光折变BaTiO3晶体缺陷的分析电子显微镜(AEM)研究
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After a subsequent annealing, the final crystalline products were preliminarily characterized by X-ray diffractometry and then analytical electron microscopy. High resolution lattice images were recorded by JEOL JEM 200 OX electron microscope.
用X射线衍射和分析电子显微镜(AEM)进行研究，并用高分辨电子显微镜观察，由JEOLJEM200CX获得晶格象照片。
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The analysis on the lattice mismatch, chemical composition distribution and interplanar spacing of { 111 } in the specimens by analytical electron microscopy has been carried out.
通过对量子点高分辨像显示的晶格错配和化学成分分析研究，解释了所研究样品中量子点尺寸逐层增大的现象。
上述内容是“Analytical Electron Microscopy”作为“AEM”的缩写，解释为“分析电子显微镜”时的信息，以及英语缩略词AEM所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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