| 释义 |
英语缩略词“WLT”经常作为“Wafer-Level Test”的缩写来使用，中文表示：“晶片水平测试”。本文将详细介绍英语缩写词WLT所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词WLT的分类、应用领域及相关应用示例等。
“WLT”（“晶片水平测试）释义 - 英文缩写词：WLT
- 英文单词：Wafer-Level Test
- 缩写词中文简要解释：晶片水平测试
- 中文拼音：jīng piàn shuǐ píng cè shì
- 缩写词流行度：6655
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Electronics
以上为Wafer-Level Test英文缩略词WLT的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词WLT的扩展资料-
X-rays, as a new radiation source, has the advantages such as safety, precise control of dose rate, strong intensity, possibility of wafer-level test or even on - line test, which greatly reduce cost for package, test and transportation.
X射线作为辐射源具有安全、剂量率控制准确等优点，可进行硅片级的测试甚至在线测试，从而大大降低封装、测试、运输的成本，提高研发效率。
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Standard wafer-level electromigration acceleration test ( SWEAT );
标准圆片级电迁移加速测试技术；
上述内容是“Wafer-Level Test”作为“WLT”的缩写，解释为“晶片水平测试”时的信息，以及英语缩略词WLT所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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