| 释义 |
英语缩略词“TPG”经常作为“Test Pattern Generation”的缩写来使用，中文表示：“测试模式生成”。本文将详细介绍英语缩写词TPG所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词TPG的分类、应用领域及相关应用示例等。
“TPG”（“测试模式生成）释义 - 英文缩写词：TPG
- 英文单词：Test Pattern Generation
- 缩写词中文简要解释：测试模式生成
- 中文拼音：cè shì mó shì shēng chéng
- 缩写词流行度：4236
- 缩写词分类：Academic & Science
- 缩写词领域：Electronics
以上为Test Pattern Generation英文缩略词TPG的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词TPG的扩展资料-
Comparing Automatic Test Pattern Generation(TPG) System
数字电路测试向量自动生成系统的比较
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Based on cell fault model, the paper studies test pattern generation and self test of tree adder, which is frequently used in the high performance processors.
时延故障对高速运算电路性能有着关键性的影响，本文对其中之一的并行前置树型加法器的通路时延故障测试作了研究。
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Test pattern generation program
测试码模式生成程序
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This paper presents a test pattern generation system implemented on a CAD workstation.
本文介绍了一个在康发工作站实现的测试产生系统COMPA-ATPGS。
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Therefore, the study of multi-core chip low-power BIST test pattern generation and application is of great significance.
因此研究多核芯片BIST低功耗测试模式生成(TPG)和应用，具有十分重要的意义。
上述内容是“Test Pattern Generation”作为“TPG”的缩写，解释为“测试模式生成”时的信息，以及英语缩略词TPG所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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