| 释义 |
英语缩略词“SIMS”经常作为“Secondary Ion Mass Spectrometer”的缩写来使用，中文表示：“二次离子质谱仪”。本文将详细介绍英语缩写词SIMS所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词SIMS的分类、应用领域及相关应用示例等。
“SIMS”（“二次离子质谱仪）释义 - 英文缩写词：SIMS
- 英文单词：Secondary Ion Mass Spectrometer
- 缩写词中文简要解释：二次离子质谱仪
- 中文拼音：èr cì lí zǐ zhì pǔ yí
- 缩写词流行度：884
- 缩写词分类：Miscellaneous
- 缩写词领域：Unclassified
以上为Secondary Ion Mass Spectrometer英文缩略词SIMS的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
英文缩略词SIMS的扩展资料-
The FTE SAMs was characterized by the time-of-flight secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS ), atomic force microscopy ( AFM ) and contact angle measurement, and the tribology properties of the FTE SAMs were measured by the Olympus head / disk interface reliability measurement system.
应用时间飞行二次离子质谱仪(SIMS)（TOF-SIMS）、原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对FTE自组装膜进行表征。通过Olympus磁头磁盘界面可靠性测试系统对FTE自组装膜的摩擦学性能进行研究。
-
A time-of-flight secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS ), X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ), an atomic force microscopy ( AFM ), and contact angle measurements were used to characterize the monolayer.
使用时间飞行二次离子质谱仪(SIMS)（TOF-SIMS）、X射线光电子能谱仪（XPS）、原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对FTE自组装膜进行了表征。
-
Particle Analysis in Nuclear Safeguards and Secondary Ion Mass Spectrometer(SIMS)
核保障的微粒分析与二次离子质谱仪(SIMS)
-
The distribution of trace elements as Fe, Si, Cu, Mg, Mn and Zn in the surface layer was also determined by secondary ion mass spectrometer.
利用二次离子质谱仪(SIMS)检测了铝箔表面区Fe、Si、Cu、Mg、Mn、Zn等微量元素的分布。
-
The Secondary Ion Mass Spectrometer(SIMS) ( SIMS ), especially dynamic SIMS, is the most suitable instrument for particle isotopic analysis.
动态型二次离子质谱仪(SIMS)（SIMS）是进行微粒同位素分析最适用的测量仪器之一。
上述内容是“Secondary Ion Mass Spectrometer”作为“SIMS”的缩写，解释为“二次离子质谱仪”时的信息，以及英语缩略词SIMS所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
|